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TEM用语集是透射电子显微分析方法的基本用语集，由日本东北大学名誉教授、日本电子技术顾问田中通义先生编修，涵盖了透射电子显微分析方法的理论、照射系、透镜系、样品室、检测系、真空系、分光分析、结晶、制样、及图像处理等10个部分的用语解释，约750条。这本用语集有助于我们更好地理解透射电子显微镜及其分析方法学，在科学研究中将会发挥积极的作用。